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HOT N-Channel MOSFET DFN1006-3L

HN3134KD3

20V N 沟道增强型 MOSFET — 1.0×0.6mm 超小封装

HN3134KD3 是一款 20V N 沟道 MOSFET,采用 DFN1006-3L 封装,本体尺寸仅 1.0mm×0.6mm,厚度 0.5mm,适合空间极度受限的便携与可穿戴设备。器件在 VGS=4.5V 时导通电阻典型 270mΩ,在 2.5V 低逻辑电平下典型 350mΩ,可由 1.8V/2.5V/3.3V 逻辑直接驱动;连续漏极电流 0.75A,脉冲电流 1.8A,并内置 ESD 保护结构。

漏源电压 VDS
20 V
连续漏极电流 ID
0.75 A
导通电阻 RDS(on)
270 mΩ @ 4.5V
栅极阈值电压 VGS(th)
0.45 ~ 1.0 V
封装形式
DFN1006-3L
工作温度范围
-40 ~ +85 °C
HN3134KD3 DFN1006-3L 封装

产品特性 Features

N 沟道增强型结构,RDS(on) 典型 270 mΩ @ VGS = 4.5V
低逻辑电平驱动:350 mΩ @ VGS = 2.5V,可直接由 1.8V/2.5V/3.3V 逻辑供电
漏源耐压 20 V,连续漏极电流 0.75 A,脉冲电流 1.8 A
栅极阈值电压 0.45 ~ 1.0 V,开启一致性良好
超小封装:DFN1006-3L,本体 1.0×0.6mm,厚度仅 0.5mm
低栅极电荷与低寄生电容:Ciss 79 pF / Coss 13 pF / Crss 9 pF
快速开关:td(on) 6.4 ns / tr 4.8 ns / td(off) 17.3 ns / tf 7.4 ns
内置 ESD 保护结构,提升装配与使用可靠性
表面贴装、无铅产品(Lead free),RoHS 合规
编带包装 10,000 pcs/reel,适配高速 SMT 产线

应用领域 Application

负载开关 电平转换 电池保护 便携式设备 可穿戴设备 TWS 耳机 LED 驱动 信号切换 小电流 DC-DC 消费电子

产品描述 Description

HN3134KD3 面向超薄、超小体积的终端产品。DFN1006-3L 封装本体仅 1.0mm×0.6mm、厚度 0.5mm,相比 SOT-23 节省约 90% 的占板面积,是 TWS 耳机、智能手表、手机周边等空间受限场景中替代传统小信号 MOS 的理想选择。

器件采用低阈值设计,VGS(th) 典型 0.75V,在 2.5V 栅压下导通电阻典型 350mΩ,可直接由低压逻辑口驱动而无需额外电平转换或预驱电路。栅极漏电流小于 ±10µA,关断状态下漏源漏电流小于 1µA,有助于降低待机功耗。

内置 ESD 保护结构使器件在 SMT 装配、测试与现场使用中具备更好的抗静电能力,降低因静电损伤导致的早期失效风险。

20V N-Channel MOSFET — DFN1006-3L(1.0×0.6×0.5mm),RDS(on) 270mΩ@4.5V,0.75A,2.5V 低逻辑电平驱动

电气特性 Electrical Characteristics

最大额定值 Absolute Maximum Ratings(TA = 25°C)
参数 符号 条件 数值 单位
漏源电压VDS—20V
栅源电压VGS—±12V
连续漏极电流IDTA = 25°C(注 1)0.75A
脉冲漏极电流IDMtp = 10 µs,TA = 25°C1.8A
耗散功率PDTA = 25°C(注 1)100mW
结到环境热阻RθJA注 11250°C/W
最大结温TJ—150°C
储存温度范围TSTG—-55 ~ +150°C
焊接温度TL距本体 1/8″,10 s260°C
静态特性 Static Characteristics(TA = 25°C)
参数 符号 测试条件 Min Typ Max 单位
漏源击穿电压V(BR)DSVGS = 0V,ID = 250µA20——V
漏源漏电流IDSVDS = 16V,VGS = 0V——1µA
栅体漏电流IGSVGS = ±12V,VDS = 0V——±10µA
栅极阈值电压VGS(th)VDS = VGS,ID = 250µA0.450.751V
静态导通电阻RDS(on)VGS = 4.5V,ID = 0.5A—270450mΩ
静态导通电阻RDS(on)VGS = 2.5V,ID = 0.3A—350600mΩ
正向跨导gfsVDS = 10V,ID = 150mA150——mS
体二极管正向压降VSDIS = 0.5A,VGS = 0V—0.71.3V
动态特性 Dynamic Characteristics
参数 符号 测试条件 Min Typ Max 单位
输入电容CissVDS = 16V,VGS = 0V,f = 1MHz—79120pF
输出电容CossVDS = 16V,VGS = 0V,f = 1MHz—1320pF
反向传输电容CrssVDS = 16V,VGS = 0V,f = 1MHz—915pF
开通延迟时间td(on)VGS = 4.5V,VDS = 10V,ID = 500mA,RGEN = 10Ω—6.4—ns
上升时间trVGS = 4.5V,VDS = 10V,ID = 500mA,RGEN = 10Ω—4.8—ns
关断延迟时间td(off)VGS = 4.5V,VDS = 10V,ID = 500mA,RGEN = 10Ω—17.3—ns
下降时间tfVGS = 4.5V,VDS = 10V,ID = 500mA,RGEN = 10Ω—7.4—ns
测试环境温度 TA = 25°C(除非另有说明)。
注 1:器件焊接在最小推荐焊盘的 FR4 板上测试。
注 2:脉冲测试,脉宽 ≤ 300µs,占空比 ≤ 2%。
注 3:开关特性与工作结温无关。
规格书版本 V1.1,完整参数与曲线请参阅官方数据手册。

封装与订购信息 Package & Ordering

型号 Device 封装 Package 包装 Carrier 数量 Quantity 温度范围 环保 Status
HN3134KD3DFN1006-3LTape & Reel10,000 pcs-40 ~ +85 °CRoHS compliant
封装尺寸 Package Outline(单位:mm)
尺寸代号 Min Max 尺寸代号 Min Max
A0.460.50b10.450.55
A1—0.03L0.220.32
D0.550.65L10.220.32
E0.951.05eTyp. 0.34
b0.120.22e1Typ. 0.65
本体尺寸 1.0mm(E)× 0.6mm(D),厚度 0.46~0.50mm。焊接盘设计请参考官方数据手册中的 Typical Soldering Pattern 章节。

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